奥林巴斯iX53研究级倒置显微镜
奥林巴斯研究级倒置显微镜ix53作为适用于日常倒置显微分析的Zui佳显微镜,集优秀的光学性能和机械性能于一身,该显微镜系统具有极高的性价比和极佳的日常使用舒适感。系统配备有如预先对中相衬、相衬和灵活UIS2 微分干涉光学组件等特性,实现了在所有倍率条件下对薄标本和厚标本的轻松可视化操作。与具有不同工作距离的聚光镜和长工作距离物镜配套使用时甚至可以对Zui复杂的标本执行观察和文件记载等工作。
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区别显微镜是正置还是倒置非常简单:物镜在观测物体的上面即为正置显微镜;反之物镜在观察物体下面就是倒置显微镜,另外相对于载物台倒置显微镜的物镜在载物台下方,正置的物镜在载物台上方。
正置显微镜具有和倒置显微镜同样的基本功能,除了对20-30mm高度的金属试样作分析鉴定外,由于符合人的日常习惯,因此更广泛的应用于透明,半透明或不透明物质。大于3微米小于20微米观察目标,比如金属陶瓷、电子芯片、印刷电路、LCD基板、薄膜、纤维、颗粒状物体、镀层等材料表面的结构、痕迹,都能有很好的成像效果。
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